STC8G1K08-SOP8是不需要外部品振和外部复位的单片机，是以超强抗干扰/超低价/高速/低功耗为目标的8051单片机，在相同的工作频率下，STC8G1K08-SOP8单片机比传统的8051约快 12倍(速度快11.2~13.2倍)，依次按顺序执行完全部的111条指令，STC8G1K08-SOP8单片机仅需 147个时钟，而传统8051则需要1944个时钟。STC8G1K08-SOP8单片机是STC生产的单时钟/机器周期(1T)的单片机，是宽电压/高速/高可靠/低功耗/强抗静电/较强抗干扰的新一代8051单片机，超级加密。指令代码完全兼容传统 8c051。

MCU内部集成高精度R/C时钟(±0.3%，常温下+25℃)，-1.38%~+1.42%温(-40℃~+85℃)，-0.88%~+1.05%温飘(-20℃~+65'℃)。ISP编程时4MHz~35MHz宽范围可设置(注意：温度范围为-40℃-+85℃时，最高频率须控制在35Mz以下)，可彻底省掉外部昂贵的品振和外部复位电路(内部已集成高可靠复位电路，ISP编程时4级复位门槛电压可选)。

MCU内部有3个可选时钟源:内部高精度IRC时钟(ISP下载时可进行调节)、内部32KHz的低速 IRC、外部4M~33M晶振或外部时钟信号。用户代码中可自由选择时钟源，时钟源选定后可再经过8-bit的分频器分频后再将时钟信号提供给CPU和各个外设(如定时器、串口、SPI等)。

MCU提供两种低功耗模式：IDLE模式和STOP模式。IDLE模式下，MCU停止给CPU提供时钟，CPU无时钟，CPU停止执行指令，但所有的外设仍处于工作状态，此时功耗约为1.0mA(6MHz工作频率)。STOP模式即为主时钟停振模式，即传统的掉电模式/停电模式/停机模式，此时CPU和全部外设都停止工作，功耗可降低到0.6uA@Vcc=5.0V，0.4uA@Vcc=3.3V。

掉电模式可以使用INTO(P3.2)、INT1(P3.3)、INT2(P3.6)、INT3(P3.7)、INT4(P3.0)、TO(P3.4)、T1(P3.5)、T2(P1.2)、T3(P0.4)、T4(P0.6)、RXD(P3.0/P3.6/P1.6/P4.3)、RXD2(P1.4/P4.6)、RXD3(P0.0/P5.0)、RXD4(P0.2/P5.2)、CCP0(P1.1P3.5/P25),CCP1(P1.0P3.6/P2.6)、CCP2(P3.7P2.7),I2C SDA(P1.4/P2.4/P3.3)以及比较器中断、低压检测中断、掉电唤醒定时器继续唤醒。

MCU提供了丰富的数字外设(串口、定时器、PCA、PWM以及FC、SPI)接口与模拟外设(超高速ADC、比较器)，可满足广大用户的设计需求。

STC8G1K08-SOP8单片机内部集成了增强型的双数据指针。通过程序控制,可实现数据指针自动递增或递减功能以及两组数据指针的自动切换功能。

特性

• 内核

– 超高速8051内核（1T），比传统8051约快12倍以上

– 指令代码完全兼容传统8051

– 16个中断源，4级中断优先级

– 支持在线仿真

• 工作电压

– 1.9V～5.5V

– 内建LDO

• 工作温度

– -40℃～85℃

• Flash存储器

– 最大17K字节FLASH空间，用于存储用户代码

– 支持用户配置 EEPROM 大小，512字节单页擦除，擦写次数可达10万次以上

– 支持在系统编程方式（ISP）更新用户应用程序，无需专用编程器

– 支持单芯片仿真，无需专用仿真器，理论断点个数无限制

• SRAM

– 128字节内部直接访问RAM（DATA）

– 128字节内部间接访问RAM（IDATA）

– 1024字节内部扩展RAM（内部XDATA）

• 时钟控制

– 内部高精度IRC（4MHz～36MHz，ISP编程时可进行上下调整，还可以用户软件分频到较低的频率工作，如100KHz）

– 误差±0.3%（常温下25℃）

– -1.38%～+1.42%温漂（全温度范围，-40℃～85℃）

– -0.88%～+1.05%温漂（温度范围，-20℃～65℃）

– 内部32KHz低速IRC（误差较大）

– 外部晶振（4MHz～36MHz）和外部时钟

• 复位

– 硬件复位

– 上电复位（在芯片未使能低压复位功能时有效）

– 复位脚复位。出厂时P5.4 默认为I/O口，ISP下载时可将P5.4管脚设置为复位脚（注意：当设置P5.4管脚为复位脚时，复位电平为低电平）

– 看门狗溢出复位

– 低压检测复位，提供4级低压检测电压：2.0V、2.4V、2.7V、3.0V

– 软件复位

– 软件方式写复位触发寄存器

• 中断

– 提供16个中断源：INT0（支持上升沿和下降沿中断）、INT1（支持上升沿和下降沿中断）、INT2（只支持下降沿中断）、INT3（只支持下降沿中断）、INT4（只支持下降沿中断）、定时器0、定时器1、定时器2、串口1、串口2、ADC模数转换、LVD低压检测、SPI、I2C、比较器、PCA/CCP/PWM

– 提供4级中断优先级

– 时钟停振模式下可以唤醒的中断：INT0(P3.2)、INT1(P3.3)、INT2(P3.6)、INT3(P3.7)、INT4(P3.0)、T0(P3.4)、 T1(P3.5)、T2(P1.2)、RXD(P3.0/P3.6/P1.6)、RXD2(P1.0)、CCP0(P1.1/P3.5)、CCP1(P1.0/P3.6)、CCP2(P3.7)、 I2C_SDA(P1.4/P3.3)以及比较器中断、低压检测中断、掉电唤醒定时器唤醒

• 数字外设

– 3个16位定时器：定时器0、定时器1、定时器2，其中定时器0的模式3具有NMI（不可屏蔽中断）功能，定时器0和定时器1的模式0为16位自动重载模式

– 2个高速串口：串口1、串口2，波特率时钟源最快可为FOSC/4

– 3组16位PCA模块：CCP0、CCP1、CCP2，可用于捕获、高速脉冲输出，及6/7/8/10位的PWM输出

– SPI：支持主机模式和从机模式以及主机/从机自动切换

– I2C：支持主机模式和从机模式

• 模拟外设

– 超高速ADC，支持10位精度15通道（通道0～通道14）的模数转换

– ADC的通道15用于测试内部参考电压（芯片在出厂时，内部参考电压调整为1.19V，误差±1%）

– 比较器，一组比较器（比较器的正端可选择CMP+端口和所有的ADC 输入端口，所以比较器可当作多路比较器进行分时复用）

– DAC：3路PCA/CCP/PWM可当3路DAC使用

• GPIO

– 最多可达18个GPIO：P1.0~P1.7、P3.0~P3.7、P5.4~P5.5

– 所有的GPIO均支持如下4种模式：准双向口模式、强推挽输出模式、开漏输出模式、高阻输入模式

– 除P3.0和P3.1外，其余所有I/O口上电后的状态均为高阻输入状态，用户在使用I/O口时必须先设置I/O口模式

– 另外每个I/O均可独立使能内部4K上拉电阻

• 封装

– TSSOP20、QFN20、SOP16、SOP8、DFN8

内部结构框图

昂科技术自主研发的AP8000万用烧录器，已成为行业内具有标杆意义的专业烧录解决方案。该设备支持灵活可调的一拖一及一拖八配置模式，并提供在线、离线双工作模式，尤其针对eMMC、UFS等存储芯片开发了专属烧录方案，可全面覆盖宏晶科技全系列芯片的裸片离线烧录与在板烧录需求。AP8000采用主机、底板、适配座三大核心模块的创新模块化设计，赋予设备出色的兼容性与扩展能力。作为通用型烧录平台，其不仅能适配市场上各类可编程芯片，更以稳定高效的性能表现，成为昂科自动化批量烧录设备IPS5800S的核心组件，可高效处理大规模芯片烧录任务，满足量产需求。

AP8000主机具备灵活的连接方式，同时配备USB和NET接口，可实现多台编程器的便捷组网。通过组网功能，用户能够轻松实现多台编程器的同步控制，高效开展并行烧录作业。在安全性方面，主机内置智能安全保护电路，可实时监测芯片放置状态与电路连接情况，一旦检测到芯片反插、短路等异常，将立即触发断电保护机制，全方位守护芯片和编程器的安全运行。主机内部搭载高速FPGA芯片，大幅提升数据传输与处理效率，确保烧录过程流畅高效。为增强使用便捷性，主机背部设置SD卡槽，用户只需将PC端生成的工程文件存储至SD卡，并插入卡槽，即可通过编程器实体按键完成文件选择、加载与烧录操作，实现脱离PC的独立运行。这一设计不仅降低了对计算机硬件配置的依赖，还简化了工作环境搭建流程，显著提升操作灵活性。

在扩展性与兼容性上，AP8000采用底板与适配板模块化组合设计，有效拓展主机功能边界。目前，该设备已实现对全主流半导体厂商产品的支持，覆盖ADVCHIP, RICHTEK, indiemicro, Fortior Tech, YUNTU等知名品牌。其支持器件类型广泛，涵盖NAND, NOR, MCU, CPLD, FPGA, EMMC等，并全面兼容Intel Hex, Motorola S, Binary, POF等多种行业标准文件格式，为用户提供一站式、全场景的芯片烧录解决方案。

关于宏晶科技：宏晶科技（STC）是新一代增强型8051单片微型计算机标准的制定者，致力于提供满足中国市场需求的高性能单片机技术，在业内处于领先地位，销售网络覆盖全国。

关于昂科技术：昂科技术（ACROVIEW）是研发、生产和销售半导体芯片测试及烧录设备的国家级专精特新“小巨人”企业，公司致力于通过创新的半导体测试技术及解决方案，赋能Fabless、IDM、OSAT、晶圆Fab和终端设备企业等全产业链客户。昂科首创的全自动老化测试ABI（Auto Burn-In）系统极大地提升了客户芯片的老化测试效率和降低Per DUT测试成本。同时还为客户提供从PSV、CP、FT、ABI、SLT、烧录各个阶段的设备产品及方案，我们将产品技术的领先优势、系统级专业知识、和全球布局的研发及销售服务网络完美融合，为客户在市场竞争中取得领先创造价值。