新一代SLT测试分选一体机介绍

支持大容量存储IC系统级测试（eMMC、UFS、Nand Flash、SSD、eMCP，LPDDR，UMCP等）的SLT系统级测试分选一体机

• 超长测试时长，超大容量测试向量数据 

• 支持up to 1024 site同时测试 

• 昂科经典4-8吸嘴 Pick & Place 芯片高精度取放组件 

• 1 in / 5 out BIN 全自动进出料及分BIN系统 

• 昂科专利叠料检测技术，支持3中不同叠料检测方式 

• 支持CCD视觉检测，精准定位IC(±0.02mm)  

•UPH up to 1800，(25min长测时) 

• 支持常温/高温测试，up to 150℃ 

•可同时满足 Open Top和旋钮式测试座 

• 可选Laser Marking镭射标记系统 

•完善的进出料AOI系统，可选3D5S检查 

• 精密调压阀(0.01MPa) 

• 支持WLCSP和各种极小尺寸封装的测试 

• 对接MES制造执行系统使得测试过程全程可控、可追溯

UFS可靠性测试方案

大容量存储器UFS测试应用

解决的关键问题：

• 汽车级、工业级UFS的可靠性评估

• 实现高温、低温、温度循环、湿热应力下的擦写寿命、数据保持、老化测试、极限能力评估

• 实时监测芯片健康状况和剩余寿命

• 芯片任意数据的写入、读取和校验； 

• USB 3.0速率； 

• 4-8个通道任意配置； 

• 温度范围：-55 ℃ ~+125℃，满足高低温、高温、潮热、重复上下电等环境下测试 

• 实现预设次数的自动擦写寿命

• 软件功能：循环次数、写入时间，擦除时间，校验时间，读取时间、写入数据量，写入速度，擦除速度、校验速度、读取速度。

• 按照UFS 2.1技术标准记录芯片的健康信息。 

• 自动统计：总数据写入量TBW、擦写时间、平均擦写速度（时间）、数据变化等

高温擦写寿命统计信息