2025-08-04
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2025-07-31
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芯片烧录领导者昂科技术在发布新版烧录软件的同时,宣布扩展了兼容芯片型号列表。新增型号里有了英迪芯微的LED驱动芯片IND83215,这款芯片已得到昂科通用烧录平台AP8000通用烧录器的支持。
IND83215三路RGB LED驱动芯片是一款车规级器件,集成了32位Arm® Cortex® M0处理器、48kB闪存和8kB静态随机存取存储器,为车内照明系统打造了单芯片解决方案。该芯片包含灵活的电源管理系统、3路漏极开路LED输入/输出驱动器(具备可编程电流和16位脉冲宽度调制功能)、器件监控功能,以及用于控制和扩展的外部接口。当直接连接到汽车电源时,IND83215能够承受来自汽车电池的高达45V负载突降。集成的电源管理单元实现了两个片上稳压器,其中一个需要外部电容器。
每个LED驱动器在高压(最高达电池电压)下支持最大60mA的恒定电流,分辨率为100µA。集成的温度传感器可确保芯片不超过其-40°C至+125°C的工作温度范围。该器件配备1个SPI主机、1个通用异步收发传输器(UART),以及2个LIN收发器/控制器(主从模式),这些通过LIN开关方法(LSM)提供LIN自动寻址功能。此外,该器件还具有用于监控目的的集成10位模数转换器(ADC)。
IND83215 LED驱动芯片集成了多达10个通用输入/输出接口(GPIO),以增强功能和灵活性,使其适用于通用微控制器应用。通过使用外部多路复用器开关对驱动电流进行时分复用,该器件可扩展用于照明应用,以驱动更多的RGB LED。
特点
• 集成ARM M0核
• 提供48K Flash以及8K SRAM
• 内置高压LDO,支持6V到18V输入电压范围
• 内置LIN主机和LIN从机,支持自动寻址
• 3通道60mA的高压恒流源
• 可实现低至50uA的休眠电流
• 支持16位PWM调光,PN电压检测,温度传感器,12位SAR ADC
• 6到10路GPIO,支持 SPI、UART、PWM、ADC、电容触控
• 支持QFN24 4*4m㎡及QFN20 4*4m㎡封装
应用
• 汽车室内照明
• 消费类照明产品
• 工业照明
内部框图
昂科技术自主研发的AP8000万用烧录器,已成为行业内具有标杆意义的专业烧录解决方案。该设备支持灵活可调的一拖一及一拖八配置模式,并提供在线、离线双工作模式,尤其针对eMMC、UFS等存储芯片开发了专属烧录方案,可全面覆盖英迪芯微全系列芯片的裸片离线烧录与在板烧录需求。AP8000采用主机、底板、适配座三大核心模块的创新模块化设计,赋予设备出色的兼容性与扩展能力。作为通用型烧录平台,其不仅能适配市场上各类可编程芯片,更以稳定高效的性能表现,成为昂科自动化批量烧录设备IPS5800S的核心组件,可高效处理大规模芯片烧录任务,满足量产需求。
AP8000主机具备灵活的连接方式,同时配备USB和NET接口,可实现多台编程器的便捷组网。通过组网功能,用户能够轻松实现多台编程器的同步控制,高效开展并行烧录作业。在安全性方面,主机内置智能安全保护电路,可实时监测芯片放置状态与电路连接情况,一旦检测到芯片反插、短路等异常,将立即触发断电保护机制,全方位守护芯片和编程器的安全运行。主机内部搭载高速FPGA芯片,大幅提升数据传输与处理效率,确保烧录过程流畅高效。为增强使用便捷性,主机背部设置SD卡槽,用户只需将PC端生成的工程文件存储至SD卡,并插入卡槽,即可通过编程器实体按键完成文件选择、加载与烧录操作,实现脱离PC的独立运行。这一设计不仅降低了对计算机硬件配置的依赖,还简化了工作环境搭建流程,显著提升操作灵活性。
在扩展性与兼容性上,AP8000采用底板与适配板模块化组合设计,有效拓展主机功能边界。目前,该设备已实现对全主流半导体厂商产品的支持,覆盖HOLTER, Fibocom, BOYAMICRO, NOVATEK, Megawin等知名品牌。其支持器件类型广泛,涵盖NAND, NOR, MCU, CPLD, FPGA, EMMC等,并全面兼容Intel Hex, Motorola S, Binary, POF等多种行业标准文件格式,为用户提供一站式、全场景的芯片烧录解决方案。
公司介绍
关于英迪芯微:英迪芯微(INDIE)成立于2017年,是一家专注于车规级数模混合信号处理的芯片及其方案供应商,在上海、无锡和苏州均设立有研发中心;在上海、深圳、北京、台北、美国洛杉矶、德国德累斯顿拥有销售和技术支持中心。通过提供混合信号系统级芯片及其方案,致力成为汽车和医疗产业客户可信赖的合作伙伴。
关于昂科技术:昂科技术(ACROVIEW)是研发、生产和销售半导体芯片测试及烧录设备的国家级专精特新“小巨人”企业,公司致力于通过创新的半导体测试技术及解决方案,赋能Fabless、IDM、OSAT、晶圆Fab和终端设备企业等全产业链客户。昂科首创的全自动老化测试ABI(Auto Burn-In)系统极大地提升了客户芯片的老化测试效率和降低Per DUT测试成本。同时还为客户提供从PSV、CP、FT、BI、SLT、烧录各个阶段的设备产品及方案,我们将产品技术的领先优势、系统级专业知识、和全球布局的研发及销售服务网络完美融合,为客户在市场竞争中取得领先创造价值。
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