CMS32M5710是中微半导体推出的基于ARM-Cortex M0内核的高端电机控制专用芯片。主频高达64MHz；工作电压2.1V至5.5V；提供64K Flash Memory，8K SRAM；多达46个GPIO；6通道增强型PWM可输出死区可调的互补型PWM,特有的刹车恢复机制可实现逐波限流功能；内置采样率100Ksps的12-bit低速 ADC，内置采样率1.2Msps的12-bit高速ADC；内置2通道高性能运算放大器，2通道模拟比较器，2通道增益可调的可编程增益放大器；32位硬件除法器仅需6个系统时钟；通信接口方面提供2路UART，1路SPI，1路I2C；内置高精度温度传感器模块；工业级标准设计，可工作在-40℃至105℃；提供IEC60730安规认证库，协助客户轻松通过CLASS B认证；提供LQFP48及QFN48标准封装。

产品特性

• ARM Cortex M0内核

• 工作电压：2.1V-5.5V@64MHz

• 工作温度：-40℃-105℃

• 64KB Flash ROM

• 8KB SRAM

• 4个32位/16位定时器

• 32位看门狗定时器，可中断唤醒

• 6位窗口看门狗定时器

• 2组捕捉/比较/脉宽调制模块(CCP)，可选择通道A或通道B

• 内置32位硬件除法器

• 6通道增强型PWM模块

• 2通道高性能模拟运算放大器

• 2通道带双边迟滞功能的模拟比较器

• 2通道增益可调的可编程增益放大器

• 内置高精度12-bit低速ADC，采样率：100Ksps

• 内置高精度12-bit高速ADC，采样率：1.2Msps

• 内置高精度温度传感器

• 2个UART接口

• 1个I2C接口

• 1个SPI接口

• 支持2种振荡方式(内部高速振荡，内部低速振荡)

• 支持四种工作模式

• 46个通用GPIO

• 封装类型：LQFP48及QFN48

系统框图

昂科技术自主研发的AP8000万用烧录器，已成为行业内具有标杆意义的专业烧录解决方案。该设备支持灵活可调的一拖一及一拖八配置模式，并提供在线、离线双工作模式，尤其针对eMMC、UFS等存储芯片开发了专属烧录方案，可全面覆盖中微半导体全系列芯片的裸片离线烧录与在板烧录需求。AP8000采用主机、底板、适配座三大核心模块的创新模块化设计，赋予设备出色的兼容性与扩展能力。作为通用型烧录平台，其不仅能适配市场上各类可编程芯片，更以稳定高效的性能表现，成为昂科自动化批量烧录设备IPS5800S的核心组件，可高效处理大规模芯片烧录任务，满足量产需求。

AP8000主机具备灵活的连接方式，同时配备USB和NET接口，可实现多台编程器的便捷组网。通过组网功能，用户能够轻松实现多台编程器的同步控制，高效开展并行烧录作业。在安全性方面，主机内置智能安全保护电路，可实时监测芯片放置状态与电路连接情况，一旦检测到芯片反插、短路等异常，将立即触发断电保护机制，全方位守护芯片和编程器的安全运行。主机内部搭载高速FPGA芯片，大幅提升数据传输与处理效率，确保烧录过程流畅高效。为增强使用便捷性，主机背部设置SD卡槽，用户只需将PC端生成的工程文件存储至SD卡，并插入卡槽，即可通过编程器实体按键完成文件选择、加载与烧录操作，实现脱离PC的独立运行。这一设计不仅降低了对计算机硬件配置的依赖，还简化了工作环境搭建流程，显著提升操作灵活性。

在扩展性与兼容性上，AP8000采用底板与适配板模块化组合设计，有效拓展主机功能边界。目前，该设备已实现对全主流半导体厂商产品的支持，覆盖HAAWKING, XHSC, ZHIXIN, SAMSUNG, KIOXIA等知名品牌。其支持器件类型广泛，涵盖NAND, NOR, MCU, CPLD, FPGA, EMMC等，并全面兼容Intel Hex, Motorola S, Binary, POF等多种行业标准文件格式，为用户提供一站式、全场景的芯片烧录解决方案。

关于中微半导体：中微半导体（Cmsemicon）成立于2001年，专注于数模混合信号芯片、模拟芯片的研发、设计与销售。主要产品包括家电控制芯片、消费电子芯片、电机与电池芯片、传感器信号处理芯片及功率器件等，广泛应用于家用电器、消费电子、电机电池、医疗健康、工业控制、汽车电子和物联网等领域。目前已完成以MCU为核心的芯片开发平台，实现了芯片的结构化和模块化开发，具备8位和32位MCU、高精度模拟、功率驱动、功率器件、无线射频和底层核心算法的设计能力，可针对不同细分领域做出快速响应。

关于昂科技术：昂科技术（ACROVIEW）是研发、生产和销售半导体芯片测试及烧录设备的国家级专精特新“小巨人”企业，公司致力于通过创新的半导体测试技术及解决方案，赋能Fabless、IDM、OSAT、晶圆Fab和终端设备企业等全产业链客户。昂科首创的全自动老化测试ABI（Auto Burn-In）系统极大地提升了客户芯片的老化测试效率和降低Per DUT测试成本。同时还为客户提供从PSV、CP、FT、ABI、SLT、烧录各个阶段的设备产品及方案，我们将产品技术的领先优势、系统级专业知识、和全球布局的研发及销售服务网络完美融合，为客户在市场竞争中取得领先创造价值。