FM25F01B-SO是一款容量为1M位(128K字节)的串行闪存，具备先进的写保护机制。该芯片支持标准串行外设接口(SPI)、双通道/四通道I/O模式，以及双指令周期四通道外设接口(QPI)。适用于将代码映射至RAM运行、通过双通道/四通道SPI直接执行代码(XIP模式)，以及存储语音、文本与数据。

FM25F01B-SO可通过页编程指令，实现单次1～256字节的编程操作。芯片支持单扇区/单块擦除，也可执行整片擦除操作。同时可配置为软件保护模式，对存储器部分区域实施保护。器件每个扇区或数据块均可保证至少10万次编程/擦除周期。

特性

• 闪存容量：1M位

– 扇区结构：32个统一扇区，每扇区4K字节

– 块结构：可选2个统一块，每块64K字节；或4个统一块，每块32K字节

– 编程页大小：每页可编程256字节

• 工作范围

– 宽电压工作：单电源供电2.3V～3.6V

– 温度范围：工业级温度

• 串行接口

– 标准SPI：CLK、CS#、DI、DO、WP#

– 双路SPI：CLK、CS#、DQ₀、DQ₁、WP#

– 四路SPI：CLK、CS#、DQ₀、DQ₁、DQ₂、DQ₃

– QPI模式：CLK、CS#、DQ₀、DQ₁、DQ₂、DQ₃

– 支持连续读取模式

– 支持真正的XIP(就地执行)操作

• 高性能特性

– 最大快速读取时钟频率：100MHz

– 最大读取时钟频率：50MHz

– 典型页编程时间：0.5ms

– 典型扇区擦除时间：80ms

– 典型块擦除时间：250ms/400ms

– 典型整片擦除时间：1s

• 低功耗特性

– 典型深度掉电电流：＜1μA

• 安全特性

– 软硬件写保护功能

– 可锁定的4×256字节一次性可编程(OTP)安全页

– 每颗芯片具备64位唯一识别码(UID)

– 支持可发现参数(SFDP)寄存器

• 高可靠性

– 擦写寿命：100,000次编程/擦除周期

– 数据保存时间：20年

• 环保封装

– 8引脚SOP封装(150mil)

– 8引脚TSSOP封装

– 8引脚USON封装(2×3mm)

– 所有封装均符合RoHS标准且无卤素

内部框图

昂科技术自主研发的AP8000万用烧录器，已成为行业内具有标杆意义的专业烧录解决方案。该设备支持灵活可调的一拖一及一拖八配置模式，并提供在线、离线双工作模式，尤其针对eMMC、UFS等存储芯片开发了专属烧录方案，可全面覆盖复旦微电子全系列芯片的裸片离线烧录与在板烧录需求。AP8000采用主机、底板、适配座三大核心模块的创新模块化设计，赋予设备出色的兼容性与扩展能力。作为通用型烧录平台，其不仅能适配市场上各类可编程芯片，更以稳定高效的性能表现，成为昂科自动化批量烧录设备IPS5800S的核心组件，可高效处理大规模芯片烧录任务，满足量产需求。

AP8000主机具备灵活的连接方式，同时配备USB和NET接口，可实现多台编程器的便捷组网。通过组网功能，用户能够轻松实现多台编程器的同步控制，高效开展并行烧录作业。在安全性方面，主机内置智能安全保护电路，可实时监测芯片放置状态与电路连接情况，一旦检测到芯片反插、短路等异常，将立即触发断电保护机制，全方位守护芯片和编程器的安全运行。主机内部搭载高速FPGA芯片，大幅提升数据传输与处理效率，确保烧录过程流畅高效。为增强使用便捷性，主机背部设置SD卡槽，用户只需将PC端生成的工程文件存储至SD卡，并插入卡槽，即可通过编程器实体按键完成文件选择、加载与烧录操作，实现脱离PC的独立运行。这一设计不仅降低了对计算机硬件配置的依赖，还简化了工作环境搭建流程，显著提升操作灵活性。

在扩展性与兼容性上，AP8000采用底板与适配板模块化组合设计，有效拓展主机功能边界。目前，该设备已实现对全主流半导体厂商产品的支持，覆盖MindMotion, HISILICON, CHIPSEA, GOODIX, ChipON等知名品牌。其支持器件类型广泛，涵盖NAND, NOR, MCU, CPLD, FPGA, EMMC等，并全面兼容Intel Hex, Motorola S, Binary, POF等多种行业标准文件格式，为用户提供一站式、全场景的芯片烧录解决方案。

关于复旦微电子：复旦微电子（FuDanWei）成立于1998年，已形成安全与识别、智能电表、非挥发存储器、智能电器四大成熟的产品线和系统解决方案，产品行销30多个国家和地区，安全与识别产品被广泛应用在金融、社保、城市公共交通、电子证照、移动支付、防伪溯源等领域。

关于昂科技术：昂科技术（ACROVIEW）是研发、生产和销售半导体芯片测试及烧录设备的国家级专精特新“小巨人”企业，公司致力于通过创新的半导体测试技术及解决方案，赋能Fabless、IDM、OSAT、晶圆Fab和终端设备企业等全产业链客户。昂科首创的全自动老化测试ABI（Auto Burn-In）系统极大地提升了客户芯片的老化测试效率和降低Per DUT测试成本。同时还为客户提供从PSV、CP、FT、BI、SLT、烧录各个阶段的设备产品及方案，我们将产品技术的领先优势、系统级专业知识、和全球布局的研发及销售服务网络完美融合，为客户在市场竞争中取得领先创造价值。