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芯片烧录领导者昂科技术在发布全新版本烧录软件的同时,正式宣布进一步拓展兼容芯片的型号覆盖版图,公司旗下核心产品——通用烧录平台AP8000,目前已实现与亚德诺半导体的时序控制器ADM1063BCP的全面适配。

ADM1063BCP是一款可配置电源监控/时序控制器件,可针对多电源系统中的电源监控和时序控制提供一种单芯片解决方案。除这些功能外,ADM1063BCP还集成一个12位ADC,可用于精确回读多达12个独立的电压。
ADM1063BCP还提供多达10路可编程输入,最多可监控10个电源的欠压故障、过压故障或窗口外故障。此外,10路可编程输出可用作逻辑使能。其中6路可编程输出可以提供最高12V输出,用于驱动可置于电源路径的N-FET栅极。
特性
• 完整的电源监控和时序控制解决方案,可监控多达10个电源
• 10个电源故障检测器,电源监控精度可达:
– <0.5%(所有电压,25°C)
– <1.0 %(所有电压、温度)
• 5个可选输入衰减器,可监控:
– VH上的最高14.4V电源
– VP1至VP4 (VPn)上的最高6V电源
• 10路可编程驱动器输出,PDO1至PDO10 (PDOx)
– 带外部上拉电阻的开集输出
– 推挽输出,驱动至VDDCAP或VPx
• 时序控制引擎(SE)对PDO输出实施状态机控制
– 状态变化以输入事件为条件
– 支持复杂的电路板控制
• 完整的电压余量微调解决方案,支持6个电压轨
• 12位ADC,回读全部受监控电压
• 1个内部和2个外部温度传感器
• 基准电压输入(REFIN)具有2个输入选项
– 直接由2.048V (±0.25%) REFOUT引脚驱动
– 通过更精确的外部基准电压源改善ADC性能
• 器件由VPn中最高者供电,VH用于提高冗余性
• 用户EEPROM:256字节
应用
• 中央交换局系统
• 服务器/路由器
• 多电压系统线路卡
• DSP/FPGA电源时序控制
• 余量微调电源的在线测试
内部框图
昂科技术自主研发的AP8000万用烧录器,已成为行业内具有标杆意义的专业烧录解决方案。该设备支持灵活可调的一拖一及一拖八配置模式,并提供在线、离线双工作模式,尤其针对eMMC、UFS等存储芯片开发了专属烧录方案,可全面覆盖亚德诺半导体全系列芯片的裸片离线烧录与在板烧录需求。AP8000采用主机、底板、适配座三大核心模块的创新模块化设计,赋予设备出色的兼容性与扩展能力。作为通用型烧录平台,其不仅能适配市场上各类可编程芯片,更以稳定高效的性能表现,成为昂科自动化批量烧录设备IPS5800S的核心组件,可高效处理大规模芯片烧录任务,满足量产需求。
AP8000主机具备灵活的连接方式,同时配备USB和NET接口,可实现多台编程器的便捷组网。通过组网功能,用户能够轻松实现多台编程器的同步控制,高效开展并行烧录作业。在安全性方面,主机内置智能安全保护电路,可实时监测芯片放置状态与电路连接情况,一旦检测到芯片反插、短路等异常,将立即触发断电保护机制,全方位守护芯片和编程器的安全运行。主机内部搭载高速FPGA芯片,大幅提升数据传输与处理效率,确保烧录过程流畅高效。为增强使用便捷性,主机背部设置SD卡槽,用户只需将PC端生成的工程文件存储至SD卡,并插入卡槽,即可通过编程器实体按键完成文件选择、加载与烧录操作,实现脱离PC的独立运行。这一设计不仅降低了对计算机硬件配置的依赖,还简化了工作环境搭建流程,显著提升操作灵活性。
在扩展性与兼容性上,AP8000采用底板与适配板模块化组合设计,有效拓展主机功能边界。目前,该设备已实现对全主流半导体厂商产品的支持,覆盖SK hynix, Micron, SANDISK, ASR, Kingston等知名品牌。其支持器件类型广泛,涵盖NAND, NOR, MCU, CPLD, FPGA, EMMC等,并全面兼容Intel Hex, Motorola S, Binary, POF等多种行业标准文件格式,为用户提供一站式、全场景的芯片烧录解决方案。
公司介绍
关于亚德诺半导体:亚德诺半导体(Analog Devices)是高性能模拟、混合信号和数字信号处理(DSP)集成电路(IC)设计、制造和营销方面世界领先的企业,产品涉及几乎所有类型的电子电器设备。亚德诺半导体生产各种创新产品-包括数据转换器、放大器和线性产品、射频(RF)IC、电源管理产品、基于微机电系统(MEMS)技术的传感器、其他类型传感器以及信号处理产品,包括DSP和其他处理器-全部是为满足广大客户的需求而设计。
关于昂科技术:昂科技术(ACROVIEW)是研发、生产和销售半导体芯片测试及烧录设备的国家级专精特新“小巨人”企业,公司致力于通过创新的半导体测试技术及解决方案,赋能Fabless、IDM、OSAT、晶圆Fab和终端设备企业等全产业链客户。昂科首创的全自动老化测试ABI(Auto Burn-In)系统极大地提升了客户芯片的老化测试效率和降低Per DUT测试成本。同时还为客户提供从PSV、CP、FT、ABI、SLT、烧录各个阶段的设备产品及方案,我们将产品技术的领先优势、系统级专业知识、和全球布局的研发及销售服务网络完美融合,为客户在市场竞争中取得领先创造价值。
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